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 ICT测试治具的控制模式有什么区别呢?
作者:昆山测试治具 点击数:139 发布时间:2016-3-24 12:05:56
 
ICT测试治具的控制模式有什么区别呢?想知道答案的同志们,请大家看以下内容,答案就在下面哦。
 
ICT测试治具的控制模式有什么区别呢?
 
  ICT测试治具的控制模式的不同,可以分为手动控制功能测试、半自动控制功能测试、全自动控制功能测试。最早的功能测试,主要以手动和半自动方式为主。可以做到故障定位准、测试稳定,与电路和设计有很大关系,电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后,可互不影响,对边界扫描的设计要安装可测性要求。
 
ICT测试治具从自动化程序上分类:手动测试,一般为夹锁治具,直接用探针把输入输出引出来。半自动测试,一般为气动及MCU,可以设备自身做一些探制及量测。全自动测试,在测试过程中不要任何人工参与的功能测试。结构上分类:MCU类功能测试机,主要以单片机控制为主的功能测试治具。PLC类的功能测试机,主要针对工控类,只有时序关系的产品做功能测试。电脑类的功能测试机,通用电脑软件控制及读取数据来测试产品性能。
 
对于ICT测试治具的检修问题,设备维修系统会提示您运行软件,看看如果发现损坏的零件或错误。如果损坏的零件或错了,你应该更换相应的零件和校准根据一条错误消息。信息和通信技术测试夹具与DMC 软件检查每个轴的反馈系统正常工作。
 
正确的步骤是: 测试系统最小化 → 在 (开始 \ 程序 \ DMC) 程序或打开在桌面 DMC (DMC 出现测试界面) → 按紧急停止开关 → 手移动每个轴。观察光栅反馈系统更改的数目和敏感性,每个轴和它的数字是在指定的范围内。然后打活 TESTXY。DMC 和 TESTZ。DMC → 运行的信息和通信技术深圳测试治具观察是否每个轴回零。
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